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多模式多时钟域芯片的物理设计方法: 收藏
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引用; 《中山大学学报（自然科学版）》2015年第3期54卷 14-18,25页; 作者：覃晓莹郑湘南王政集粟涛中山大学物理科学与工程技术学院广东广州510275; 为了降低测试成本和难度,提高质量和成品率,量产芯片一般包含存储器内建自测试(MBIST)模式和扫描链测试(Scan Chain Test)模式。另一方面,随着芯片集成的功能不断增多,设计时一般会采用多个不同时钟。针对这种情况,本文提出了一种通过...; 为了降低测试成本和难度,提高质量和成品率,量产芯片一般包含存储器内建自测试(MBIST)模式和扫描链测试(Scan Chain Test)模式。另一方面,随着芯片集成的功能不断增多,设计时一般会采用多个不同时钟。针对这种情况,本文提出了一种通过改变时序约束,实现此类芯片多模式归一化的物理设计方法,称为混合模式(Mix-mode)。把该方法运用到一款基于130 nm工艺的视频后处理专用芯片上,采用Synopsys IC Compiler(ICC)工具进行布局布线。结果表明,与采用ICC工具提供的多模式(Multi-Mode)设计方法相比,采用该方法完成的物理版图在工具运行时间、时序、功耗、面积、总线长等方面都有更好的结果。; 来源：详细信息评论

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