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嵌入式微处理器片上调试系统的设计和验证: 收藏
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引用; 《计算机工程》2008年第B9期34卷 131-133页; 作者：龚令侃卢景芬华东计算技术研究所上海200233; 为了尽可能保持芯片原有体系结构,综合基于软件监控和基于JTAG的2种方法,提出扩展嵌入式处理器片上调试系统的完整解决方案。该系统包括PC端的开发环境IDE、命令转发与控制子系统Probe和支持JTAG标准的目标CPU等部分。通过软硬件协同设...; 为了尽可能保持芯片原有体系结构,综合基于软件监控和基于JTAG的2种方法,提出扩展嵌入式处理器片上调试系统的完整解决方案。该系统包括PC端的开发环境IDE、命令转发与控制子系统Probe和支持JTAG标准的目标CPU等部分。通过软硬件协同设计和验证,确保系统划分正确,子系统协调工作,并缩短了调试系统的开发周期。; 来源：详细信息评论

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