摘要：纳米尺度的材料具有许多不同于宏观体材料的奇特的物理和化学特性.了解纳米结构的物性随材料尺寸及形状的变化关系,对于设计和合成具有特定功能的纳米材料有重要的指导意义.静电力显微镜技术为研究微纳米尺度下材料的电学特性提供了强有力的工具.文章介绍了这种测量技术的基本原理,并列举了几种在静电力显微镜基础上发展起来的纳米材料电学性质的表征方法,包括探针特征电容的标定、表面电荷密度测量、薄膜材料中载流子密度测定等.这些实验方法扩展了静电力显微镜的应用领域,为深入研究纳米材料的性质和纳米器件的功能结构提供了丰富的技术手段.

摘要：本文主要内容,作者曾在1956年8月北京举办的全国半导体讲习班上。现又改编充实。作者对晶体管的设计和制造,有多年工作经验和试验研究心得,将陆续撰文在本刊发表。

摘要：PIN管作为一种新型器件,自五十年代问世以来,在微波领域得到了广泛的应用。在微波波段,它可用来作相、幅控制器件(如开关、限幅器、移相器及可变衰减器等)。它是雷达(特别是相控阵雷达)和微波测量设备的重要元件之一。为此,本刊自本期起将分四讲登载“PIN管的微波特性及其应用”讲座。第一讲主要介绍PIN管的微波特性,后三讲则着重介绍PIN管在各种器件内的应用及其高功率性能。本讲座对基本原理仅作简要叙述,而在应用部分,除文字叙述外,还给出典型性能曲线,供设计者参考。