摘要：边界扫描是一种标准化的可测性设计体系结构,已被广泛应用于板级测试、系统片上调试以及IC编程;Longtium R2+微处理器的边界扫描设计采用EDA工具BSD Compiler自动完成,缩短了设计和验证周期;主要介绍了BSD Compiler的设计流程及配置要点,并结合Longtium R2+边界扫描逻辑的具体实现方案,提出了一种利用边界扫描逻辑实现对系统内部逻辑观察与控制的机制。

摘要：在分析边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求基础上,提出了一种基于PCI总线采用FPGA实现的低成本边界扫描测试主控器的硬件设计方案.该系统以PC机为平台,利用FPGA器件设计实现JTAG主控芯核,并在主控器芯核内加入FIFO,提高了PCI总线的传送速率,使用户能够利用计算机方便的组成一个边界扫描测试系统.经仿真和测试实践表明,该系统产生的测试信号完全满足IEEE1149.1协议的时序要求,对支持IEEE1149.1协议的芯片进行功能测试和PCB板的互连测试及电路故障诊断.该系统结构简单,使用方便,工作可靠.

摘要：随着SOC系统的快速发展,如何对其进行有效的测试与诊断是当前研究的热点问题。从SOC数字电路可测试性设计的角度出发,基于边界扫描技术,设计了具有边界扫描结构的IP核,并对相应的测试方法进行了研究。通过仿真及时序分析,验证了该设计方法的可行性,为SOC系统的测试提供了新的思路。

摘要：设计和实现了一个基于边界扫描的通用通路测试平台,在某大型计算机系统和嵌入式应用系统中得到了应用。简述了边界扫描机制的工作原理,描述了该平台的软件结构和通路测试算法,并介绍了系统的应用情况。

摘要：在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,设计并实现了符合标准的混合信号电路边界扫描可测性结构各组成部分,包括测试访问口控制器、数字边界扫描单元、模拟边界扫描单元、测试总线接口电路及测试寄存器;构建验证电路进行了测试验证。测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。

摘要：边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法。但是在扫描链路的设计中如何将不同厂 家、不同型号、不同工作电压的BS器件实现JTAG互连,如何将边界扫描测试、在线编程和在线仿真结合起来一直是一个 亟待解决的问题。为了解决上述问题,文中提出了两种基于边界扫描技术的板级动态链路设计方法。该方法不仅能完成 边界扫描测试,还能完成在线编程或在线仿真等功能,具有很好的测试设计灵活性。

摘要：随着超大规模集成电路 (VLSI)、表面安装器件 (SMD)、多层印制电路板 (MPCB)等技术的发展 ,常规BIT设计面临挑战。为解决上述问题 ,本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略。该方法操作简单 ,经济实用 ,一旦广泛使用 ,无疑将会有很好的军事经济效益。

摘要：分析边界扫描测试技术的工作机制和对测试支撑系统的功能需求,提出一种基于USB总线的高速边界扫描测试主控器的设计方案。利用CY7C68013作为USB2.0接口控制器,使用CPLD实现JTAG主控硬核,完成JTAG协议和USB总线协议的相互转换。JTAG的TCK时钟频率可调,最高可达48MHz。用户可利用该边界扫描控制器方便高效地进行边界扫描测试。

摘要：由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在 ,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题 .为减少其测试时间 ,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术 ,提出了一种多边界扫描链优化配置技术 .经实例验证表明 ,该技术可以有效地减少混合技术电路板簇测试时间 。

摘要：设计了一种基于FPGA的边界扫描测试向量发生器,该发生器可以为边界扫描故障诊断系统提供测试向量,并可计算测试向量的故障覆盖率。与以往通过软件提供测试向量的方法相比,该设计在速度和效率上有了较大提高。