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通用印制线路对芯片老化工艺效率提升的研究
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《电子与封装》2018年 第10期18卷 17-20页
作者:李小亮 何静中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 
老化试验是指在遵循"浴盆曲线"这一原理的前提下,在元器件筛选试验中将已损坏的器件剔除出去,从而提高元器件的整体可靠性。主要研究如何让同一种封装尺寸的芯片使用同一种老化,无需因其功能不同而制作不同的老炼加电印制板...
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