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检索条件"主题词=霍尔迁移率"
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薄片样品霍尔迁移率的无接触测试和计算
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《固体电子学研究与进展》1992年 第2期12卷 141-146页
作者:褚幼令 王宗欣 许瓯复旦大学物理系上海200433 
设计了一种微波介质波导探头用于无接触测量半导体薄片样品的霍尔迁移率。它具有体积小、被测薄片样品大小不受限制等优点。在直流磁场变化时,无接触测试了一组n型硅薄片样品的横向磁阻,讨论了磁阻的计算方法及考虑样品的晶向后,由磁阻...
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自催化生长GaSb纳米线及其在高性能紫外-可见-近红外光电探测器中的应用(英文)
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《Science China Materials》2020年 第3期63卷 383-391页
作者:张凯 柴瑞青 史瑞龙 娄正 沈国震State Key Laboratory of Superlattices and MicrostructuresInstitution of SemiconductorsChinese Academy of SciencesBeijing 100083China Center of Materials Science and Opto-electronic EngineeringUniversity of Chinese Academy of SciencesBeijing 100029China Hebei Key Lab of Optic-electronic Information and Materialsthe College of Physics Science and TechnologyHebei UniversityBaoding 071002China 
本文应用镓金属液滴作为催化剂,采用化学气相沉积方法自催化合成了单晶GaSb纳米线.研究表明该GaSb纳米线为典型的p型半导体,霍尔迁移率为>0.042 cm^2V^-1s^-1.硅基和柔性衬底上构筑的基于GaSb纳米线的光电探测器,具有良好的紫外-可见...
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