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12 bit 30 MSPS逐次比较型ADC的测试: 收藏
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引用; 《原子核物理评论》2018年第1期35卷 46-52页; 作者：杨云帆赵雷周圣智刘建峰刘树彬安琪核探测与核电子学国家重点实验室中国科学技术大学合肥230026 中国科学技术大学近代物理系合肥230026; 针对物理实验读出的需求设计了一款低功耗12 bit 30 MSPS逐次比较型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片,为评估其性能指标参数,需进行系统的测试。在本研究工作中构建了测试系统,然后按照IEEE标准进行了系统的测试和分析...; 针对物理实验读出的需求设计了一款低功耗12 bit 30 MSPS逐次比较型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片,为评估其性能指标参数,需进行系统的测试。在本研究工作中构建了测试系统,然后按照IEEE标准进行了系统的测试和分析。测试结果表明,输入信号在基带范围内ADC有效位(Effective Number Of Bit,ENOB)约为9 bit,达到了本版本芯片的设计指标。同时,综合分析静态性能与动态性能测试结果,可以通过优化逐次比较型ADC中电容阵列电容失配参数,进一步提升ADC的非线性指标,为下一版芯片的改进设计提供了参考依据。; 来源：详细信息评论

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