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一种针对非接触智能卡的抗干扰测试方法
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《中国集成电路》2023年 第8期32卷 86-89页
作者:杨利华北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室 
智能卡业界领域很少有专门针对非接触智能卡的抗干扰测试方法,但非接触智能卡同样存在数据健壮性问题,需要进行抗干扰测试,本文专门介绍一种非接触智能卡的抗干扰测试方法。
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Type B非接触智能卡防冲突模型的设计与实现
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《计算机工程与应用》2003年 第26期39卷 137-139页
作者:张大伟 张其善北京航空航天大学电子工程系北京100083 
在分析了TypeB非接触智能卡防冲突的基本工作原理的基础上,采用有限状态机模型对上防冲突协议的实现算法进行了数学表述和状态转换的设计,并采用统一建模语言UML中的状态图描述了上的防冲突过程。最后,在智能卡芯片上实现了防冲突协...
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非接触智能卡安全分析
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《金工程》2007年 第10期11卷 74-75页
作者:Peter Laackmann Marcus Janke英飞凌科技公司 
智能卡安全控制器经常遭受大量的黑客攻击。最近,攻击方法的巨大改进,宣布了以前许多设计声称其产品非常安全的说法的终结。对于原本设计具有很长设计寿命的用于护照之类的高安全性芯片来说,现在也不得不采取最新的反制措施来应对,...
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非接触智能卡读写器50Ω匹配天线的设计
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《金工程》2006年 第6期10卷 36-39页
作者:程悦 黎明广州广电运通金融电子股份有限公司 不详 
本文主要介绍了符合ISO/IEC 14443标准的读写器的50Ω匹配天线的设计,包括读写器端以及天线端的匹配电路的设计。读写芯片使用PHILIPS公司的RC531。
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非接触智能卡兼容性测试系统设计
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《微型机与应用》2017年 第14期36卷 64-67页
作者:王丰 刘丽丽北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室北京102209 
主要介绍了非接触智能卡兼容性测试方法及测试系统设计,重点阐述非接触智能卡兼容性测试存在的问题,并针对问题提出兼容性测试方法及兼容性测试系统的设计实现。该设计为非接触智能卡兼容性测试积累经验,以期降低非接触智能卡产品应用...
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非接触智能卡读写器50Ω匹配天线的设计
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《城市轨道交通研究》2007年 第4期10卷 49-51页
作者:程悦 黎明广电运通金融电子股份有限公司广州工程师510656 
介绍了符合ISO/IEC14443标准的读写器的50Ω匹配天线的设计,包括读写器端以及天线端的匹配电路的设计。对读写器到的数据传输、到读写器的数据传输、天线尺寸的估算、匹配天线的设计等内容作了阐述。该产品已经应用在轨道交通行业。
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非接触智能卡校园管理系统的设计与实现
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《电子工程师》2003年 第8期29卷 4-6页
作者:吴倩 陈晓平江苏大学江苏镇江212013 
介绍了一种非接触智能卡校园管理系统的设计与实现 ,说明了非接触IC作为校园的可行性和适宜性 ,阐述了系统组成框架。
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非接触智能卡安全攻击方法研究
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《成都信息工程学院学报》2013年 第5期28卷 455-459页
作者:王喆 周建锁 郑晓光 刘剑峰北京中电华大电子设计有限责任公司北京100102 
随着非接触智能卡的广泛应用,其安全问题也越来越突出。研究了一种非接触智能卡DES密码算法的侧信道安全攻击方法,设计了非接触智能卡密码的侧信道安全攻击流程,研究了信号的采集和处理方法,并对处理后的最终信号进行安全攻击。论文设计...
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非接触智能卡芯片ESD失效分析
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《中国集成电路》2005年 第10期14卷 86-89页
作者:周建锁北京中电华大电子设计有限责任公司 
非接触智能卡芯片在生产加工过程中不可避免地会产生由于静电放电(ESD)原因导致的失效。收集失效样品并进行分析,并最终确定失效模式,以及对失效点进行定位,这些都对芯片片上ESD保护电路的改进,以及生产加工环境静电防护措施的改进提供...
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基于ARM的非接触智能卡读写器的硬件设计
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《金工程》2006年 第11期10卷 43-46页
作者:黎明 池荣煖广州广电运通金融电子股份有限公司研发中心广州510656 广州市公安局天河分局刑警大队广州510630 
本丈介绍了以ARM处理器作为控制器的非接触智能卡读写器的硬件系统原理和设计方法,包括中央控制子系统、存储子系统、非接触智能卡读写子系统、SAM读写子系统等的设计方法。
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