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并发缺陷暴露、检测与规避研究综述: 收藏
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引用; 《计算机学报》2015年第11期38卷 2215-2233页; 作者：苏小红禹振王甜甜马培军哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院哈尔滨150001; 当今普遍流行的多核架构使得硬并发成为现实.为了从硬件的并发能力获益,并发程序设计正越来越流行.然而由于内在的并发性和不确定性,并发程序易于遭遇并发缺陷,并且它们难以检测、调试和修复.文中指出软件开发正从顺序模式转向并发模式...; 当今普遍流行的多核架构使得硬并发成为现实.为了从硬件的并发能力获益,并发程序设计正越来越流行.然而由于内在的并发性和不确定性,并发程序易于遭遇并发缺陷,并且它们难以检测、调试和修复.文中指出软件开发正从顺序模式转向并发模式的趋势,揭示并发程序和并发缺陷各自的三大特点,剖析并发缺陷面临的三大挑战,然后将并发缺陷分为死锁、数据竞争、原子性违背和顺序违背4类,并讨论4类并发缺陷的相互关系,接着就如何尽快暴露、及时检测和高效规避各类并发缺陷对已有研究作出分析、比较和归纳,最后从智能快速的缺陷暴露、通用准确的缺陷检测、确定性重放支持、软硬件协同设计和新的并发编程模型等5个方面展望了未来的研究重点.; 来源：详细信息评论

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