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基于边带-频率调制的磁力显微镜技术研究: 收藏
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引用; 《磁性材料及器件》2017年第5期48卷 15-20,72页; 作者：李正华李翔乔亮大连民族大学物理与材料工程学院辽宁大连116600 上海理工大学材料科学与工程学院上海200093 兰州大学物理科学与技术学院甘肃兰州730000; 基于磁探针的边带-频率调制机理,建立了高频场磁力显微镜方法(high frequency field magnetic force microscopy method,HFF-MFM),实现了对高频磁场的动态观测。首先建立了MFM探针的力学、磁学模型,依据MFM探针的频谱测量结果,系统研究...; 基于磁探针的边带-频率调制机理,建立了高频场磁力显微镜方法(high frequency field magnetic force microscopy method,HFF-MFM),实现了对高频磁场的动态观测。首先建立了MFM探针的力学、磁学模型,依据MFM探针的频谱测量结果,系统研究了MFM探针的边带-频率调制机理;其次,利用高频信号处理模块对探针的调制信号进行解调、提取,理论分析结合实验设计,完成了对高频磁场的直接测量。实现对纳米结构中1MHz以上磁场的直接测量。该方面的工作是MFM研究领域的一个重要进展,为进一步发展纳米尺度磁畴结构的相关精密测量技术奠定了基础。; 来源：详细信息评论

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