• 全部搜索
  • 期刊论文
  • 图书
  • 学位论文
  • 学位论文
  • 标准
  • 纸本馆藏
  • 外文资源发现
  • 产品样本
  • 电子图书
  • 原文传递

限定检索结果

检索条件"主题词=11494"
共 1 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
视图：
排序：
模拟集成电路的边界扫描可测性设计方案
收藏
分享
引用
《电光与控制》2014年 第5期21卷 92-96页
作者：薛冰 冯长江 王聪丽 张泽建武警石家庄士官学校 军械工程学院电工电子实验中心 中国人民解放军71834部队 
提出了一种基于边界扫描技术的模拟集成电路内建自测试方案。该方案依照IEEE 1149.4边界扫描测试标准,在添加极少电路元件的基础上,增加了电路性能测试单元(FTM),能够充分利用电路系统中已有数模混合资源,通过控制器内部向被测电路施加...
来源：详细信息评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页<< <1> >>
聚类工具 回到顶部