摘要：吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-scs半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-scs的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。在4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。

摘要：吉时利仪器公司4月发布利用一套线缆即可处理I～V、C—V和脉冲I—V信号的互连解决方案。本款最新布线套件基于专利型设计，能大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到Cascade Microtech勤务SUSS MicroTec探测器进行直流电流一电压（I—V）、电容-电压（C—V）和脉冲I—V测试互连的过程。互连线的设计与吉时利4200-scs半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。

摘要：吉时利仪器公司日前发布测试界第一个利用一套线缆即可处理I-V、C-V和脉冲I-V信号的互连解决方案（正申请专利）。本款最新布线套件基于专利型设计，能大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探测器进行直流电流一电压（I-V）、电容一电压（C-V）和脉冲I-V测试互连的过程。互连线的设计与吉时利4200-scs半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。