摘要：随着超深亚微米工艺的发展和So C基于IP核的设计,使芯片逻辑功能越来越复杂,需要更多的引脚和测试资源。为了满足不同客户的需求,要求芯片的引脚数有灵活性,这直接导致了对芯片测试资源使用有所限制。使用较少的硬件资源,完成复杂的逻辑功能测试,是芯片测试逻辑设计的核心技术之一。主要介绍对adc所需的测试资源的优化,首先介绍了传统adc测试结构及其局限性,然后介绍了adc优化后的测试结构,使之能够在较少芯片引脚资源的条件下保证测试灵活性。在此基础之上,搭建了adc数模仿真环境,并使用NC-SIM软件对adc基本功能进行了仿真测试。

摘要：近年来,在电路设计领域高性能的模数转换器(adc)一直是研究热点。相应的adc测试评价技术也同样一直受到重点关注。阐述了adc的参数及其测试的原理和方法,并基于Labview软件和数据采集卡构建了adc的软硬件测试平台,实现了低成本、高可靠性的高速高精度adc计算机辅助测试的测试系统。最后,使用该测试系统对TI公司的ADS805进行了测试,并给出了测试结果。

摘要：高位adc的测试中,对输入信号的质量要求较高,一般的混合信号测试系统难以达到要求。论文提出了一种基于电流积分法的高位adc典型静态参数测试方法,充分利用了聚丙烯电容在积分线性度方面的优势,搭建了合理的测试电路,并在ATE上完成了对某款14bit adc的典型静态参数测试,实验表明,该方法设计简便,通用性强,而且测试效果良好,具有较强的实用性。

摘要：伴随着通信系统对高频率、大带宽以及多通信模式的需求,模数转换器(Analog-to-Digital Convertor,adc)的设计正趋向于高速高精度发展,与此同时也给芯片测试带来了更大的挑战。本文基于NI VirtualBench硬件平台,提出了一套自动化测试方案,该测试方案采用码密度直方图法和FFT频谱分析法实现adc芯片的静态参数和动态参数的自动化测试。

摘要：针对模数转换器(adc)动态性能参数求取过程中存在的影响因素繁多、计算标准不一致、计算结果差异大等问题,利用遗传算法对各个影响因素进行参数寻优和adc动态性能参数计算。基于MATLAB GUI开发平台设计了相应的参数寻优及计算系统,可实现训练样本数据的导入、各个影响因素的参数寻优、测试样本数据的导入和验证、以及adc动态性能参数的计算等功能。将该系统与德州仪器公司Analog Engineers Calculator软件之间的计算结果进行比对分析,二者之间的计算误差不超过0.94%,说明该系统有着较高的adc动态性能参数计算稳定性和准确性。

摘要：微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程、低功耗等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片在线测试是保证产品质量的重要技术手段,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片在线测试的难点。针对一款32位高性能MCU芯片,基于J750Ex-HD型集成电路ATE测试系统开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU芯片内部的POR/PDR、GPIO、adc、Trimming、存储器等功能模块的功能性验证方法。按照MCU在线测试方法流程,设计制作了MCU芯片测试适配器,开发了基于VBT编程的芯片测试程序,实现了批量MCU芯片的在线测试。