摘要：结合芯片设计的电源状态信息使得atpg带有电源感知能力,阐述电源感知atpg能够提供追溯有效的电源模式的设计规则检查,确保扫描操作在电源配置中的效果。

摘要：在ASIC设计中,越来越多地采用了SoC（systems-on-a-chip）方法,同时也因为采用各种IP核和嵌入存储器,给芯片的设计和测试带来了复杂性,特别是在atpg中这些单元对故障覆盖率有较大的影响.现在已经有一些测试嵌入存储器本身的方法,但这些方法一般不考虑嵌入存储器对周围逻辑可测性的影响.在分析了嵌入存储器对atpg的影响后,提出了消除这些影响的RTL级的DFT方法,这种方法得到了实验的检验.

摘要：介绍布尔可满足性 (SAT)求解程序在测试向量自动生成、符号模型检查、组合等价性检查和RTL电路设计验证等电子设计自动化领域中的应用 着重阐述如何在算法中有机地结合电路拓扑结构及其与特定应用相关的信息 ,以便提高问题求解效率

摘要：介绍了"龙腾"S2微处理器测试结构设计方法,详细讨论了采用全扫描测试、内建自测试(BIST)等可测性设计(DFT)技术.该处理器与PC104全兼容,设计中的所有寄存器采用全扫描结构,设计中的存储器采用内建自测试,整个设计使用JTAG作为测试接口.通过这些可测性设计,使芯片的故障覆盖率达到了100%,能够满足流片后测试需求.

摘要：可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节,针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求。首先概述可测试性设计和测试向量自动生成理论,然后采用最新的测试向量自动生成技术,根据自行设计的无线接入芯片的内部结构及特点,建立一套无线接入芯片可测试性设计的方案。同时功能测试向量的配合使用,使得设计更为可靠。最终以最简单灵活的方法实现了该芯片的可测试性设计。

摘要：可测性设计已应用在大规模集成电路设计中。本文介绍了可测性设计原理和实现技术。同时介绍了一款无线局域网(WLAN)芯片,根据该芯片的结构特点,介绍了本款芯片应用的可测性技术以及实现过程,对使用的EDA工具及设计方法进行了深入描述。最后对可测性设计实现的效果进行了说明,并给出部分测试结果。

摘要：本文讨论基于PLD设计文件的PLD自动测试程序生成技术,包括设计文件解析技术:测试向量生成算法;测试向量自动生成技术;测试程序自动生成技术;以及相应的atpg技术,并介绍我们研究开发的PLD器件自动测试程序生成系统——PLDTEST。

摘要：随着数字电路的广泛应用,电路的测试与故障诊断已成为其设计与生产过程的重要组成部分。讨论了电路的测试及故障诊断中的一些问题,主要包括故障模型、故障仿真、故障压缩及可测试性度量与测试矢量生成算法(atpg),并研究了电路测试技术的发展趋势。

摘要：在大规模集成电路芯片的可靠性分析和性能评估中 ,功耗估算起着重要的作用 .文中提出基于 atpg的最大功耗估算改进算法 ,通过对电路充放电节点分配信号翻转 ,使电路工作时的动态功耗最大化 ;研究了路径搜索空间与功耗估值的关系 ,减少了路径搜索的开销 ,加快了估算时间 ;