摘要：介绍了BESⅢ触发系统高精度事例时刻标定插件的设计与实现,该插件可对触发系统产生的好事例判选信号L1*打上精确的时间标签。插件采用GPS授时方案;支持VME总线读写操作及cblt在线数据读出;所有逻辑功能在FPGA中实现。最后给出了时间标签信息的输出结果,插件的设计达到了预期的设计目标。

摘要：介绍了一个基于VxWorks和PowerPC的VME插件测试系统TTL的设计及其功能。该测试系统允许硬件开发人员在不同的层次上对VME插件进行常见功能的调试和检测,包括VME总线读写操作、cblt(Chained Block Transfer),MCST(Multicast)以及IACK(中断响应)测试。在BES III的电子学系统VME机箱和插件级设备的调试和检测中采用了该测试系统,提高了硬件研制及调试的效率。

摘要：本文介绍BESIII触发系统径迹计数插件的设计与实现。该插件实现128通道的径迹计数功能,并输出触发条件;插件支持VME总线的读写操作和cblt在线数据读出;所有功能在FPGA中实现,并以流水线工作方式工作。具备通过VME总线在线加载FPGA的功能。经过测试,插件达到了预期的设计目标,并已应用到BESIII工程MDC宇宙线实验中。

摘要：为配合BEPC Ⅱ(Beijing Electron Positron Collider,即北京正负电子对撞机)的改造,目前北京谱仪(Beijing Spectrometer,简称BES)正在进行第三期升级改造工程,称为BESⅢ。改造后的BESⅢ将大幅度提高探测器性能。TOF(Time of Flight),即飞行时间计数器,是BESⅢ的重要子系统,其负责时间和电荷测量的前端电子学读出模块(Front End Electronics Module,简称FEE)要求时间分辨率好于25ps,电荷分辨率好于10bit。为了对FEE模块的性能进行测试,保证工程进度和质量,一个完备的测试控制/分析系统的建立是十分必要的。文章将简要论述其中测试控制及分析软件的设计。