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一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路的生成系统
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《现代电子技术》2017年 第24期40卷 5-8页
作者：侯立刚 杨扬 叶彤旸 彭晓宏 耿淑琴北京工业大学电子信息与控制工程学院北京100022 
提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路。通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者def库文件,实现物理设计...
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