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考虑寄生参数影响的芯片RC-hbm静电测试模型: 收藏
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引用; 《电力系统保护与控制》2022年第4期50卷 172-179页; 作者：熊素琴李求洋肖志强中国电力科学研究院有限公司北京100192 湖南大学电气与信息工程学院湖南长沙410082; 采用常规的人体模型(Human Body Model,hbm)进行静电释放(Electro-Static Discharge,ESD)测试时往往容易受到寄生参数的影响,使得电源芯片抗静电能力测量值与实际抗静电能力存在偏差,导致劣质产品通过hbm ESD测试,影响电源芯片产品良品...; 采用常规的人体模型(Human Body Model,hbm)进行静电释放(Electro-Static Discharge,ESD)测试时往往容易受到寄生参数的影响,使得电源芯片抗静电能力测量值与实际抗静电能力存在偏差,导致劣质产品通过hbm ESD测试,影响电源芯片产品良品率的提升。为此,提出了一种RC-hbm模型,通过引入RC并联支路,校正因寄生参数引起的静电放电电流的偏差,满足电源芯片静电可靠性测试的要求。首先阐述了静电对电源芯片的损坏机理。其次,分析了寄生参数对ESD电流的影响,阐述了常规hbm ESD测试的局限性。并提出了一种新型的RC-hbm模型,给出了RC并联支路参数的设计依据。最后,通过批量实验验证了所提RC-hbm模型的准确性和合理性。; 来源：详细信息评论

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