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存储对ic器件引出端焊接性能的影响
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《电子工艺技术》2014年 第4期35卷 227-229,241页
作者：许慧中国赛宝实验室广东广州510610 
主要研究了存储周期对锡铅/纯锡两种镀层的塑封ic器件引脚焊接性能的影响。分别针对两种不同镀层的元器件引脚设计储存老化试验,通过可焊性及数据分析等手段,获得存储对镀层老化程度的影响及可焊性的变化情况,从而为制定合理的元器件储...
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