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基于ls空间的IC真实缺陷图像的分割: 收藏
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引用; 《电子学报》2005年第5期33卷 954-956页; 作者：王俊平郝跃西安电子科技大学微电子研究所; 　在对集成电路(IC)真实缺陷进行分类与识别时,IC缺陷图像分割是非常重要的一步.本文提出一种新的IC缺陷图像分割方法.该方法首先将IC缺陷图像由RGB空间转换到Hls空间,然后根据IC缺陷图像背景像素的L及S值的分布,设计ls空间上的分段线...; 　在对集成电路(IC)真实缺陷进行分类与识别时,IC缺陷图像分割是非常重要的一步.本文提出一种新的IC缺陷图像分割方法.该方法首先将IC缺陷图像由RGB空间转换到Hls空间,然后根据IC缺陷图像背景像素的L及S值的分布,设计ls空间上的分段线性判别函数及聚类准则,最后由聚类准则完成IC真实缺陷图像的分割.实验结果表明,本文方法不仅可分割背景一致的IC图像,而且对背景不一致的图像也可获得满意的分割效果.从而为真实缺陷的分类与识别奠定了可靠基础.; 来源：详细信息评论

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