摘要：提出一种基于环路(loopback)测试的内建自测试(BIST)方法。为了基于环路结构的内建自测试,设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试(BIST)电路RF收发器的测试结果表明,此方法能够正确检测出系统故障,可以应用于生产测试,并能减少测试时间和测试成本。

摘要：本文主要设计了开发3G移动可视电话系统过程中,在VT系统设计完成后脱离其它软件模块进行有效测试的几套方案。首先介绍了具有独创性的针对CommDevice的loopback方案的基本编程思路与部分程序代码,对Com-mDevice以外的模块进行快速检测;第二套利用简单便捷的VIVA手机+MD8470A的loopback方案对手机整体效果进行初步检测;第三套通过VIVA手机到DNA的测试方案复杂但精确性高。本文中设计的各套方案各有优劣,具有可调性高,测试效果好的特点,合理使用各种测试方案,对于提高可视电话开发速度和产品质量都有很大帮助。