摘要：目的验证SiO2涂层对pei绝缘材料耐原子氧剥蚀能力的提升效果。方法以某航天器舱外用电连接器pei绝缘材料为研究对象,将全氢聚硅氮烷(PHPS)作为涂层材料,利用底涂浸涂、面涂喷涂的KH-AORX湿化学法镀膜工艺,把PHPS直接转化为二氧化硅(SiO2)无机防护涂层。基于型号在轨15年的工作寿命要求,开展5年原子氧总通量为2.61×10^26 atoms/m^2、原子氧通量率为6.5×10^15 atoms/(cm^2·s)的试验验证,分析试验前后的材料质量损失率、原子氧剥蚀率和外观形貌的变化。结果采用的KH-AORX湿化学法镀膜工艺可实现将PHPS涂层材料作用于pei绝缘材料并直接转换为SiO2保护涂层。涂层边缘厚度及中心厚度具有较好的一致性,涂层硬度及附着力满足设计指标要求。已涂覆SiO2的pei绝缘体经历5年通量的原子氧剥蚀后,质量损失率为0.05%,拟合计算后,经历15年通量的原子氧剥蚀后的质量损失率为0.29%。经电子显微镜检查,pei绝缘体表面SiO2涂层未见起层、脱落和基体暴露现象。结论利用KH-AORX湿法镀膜工艺在pei绝缘材料上将PHPS转化为SiO2涂层,能够获得较大的膜层,且膜层厚度分布均匀。SiO2涂层能有效提高pei绝缘材料的耐原子氧性能,满足舱外应用在轨服役寿命要求。