摘要：如今的教育背景要求教师改进传统单一的教学模式,帮助学生主动地接受知识,完成知识内化,促进学生创新能力与合作交流能力的提升。目前的教育更加强调学生之间的交流合作,推动信息技术进入校园,与教育实践相结合,成为目前教育改革的重要手段,云班课在课堂教学中得到了广泛的应用。x射线衍射实验对于学生的综合素养要求较高,在具体的实验过程中,学生要掌握精密仪器的构造原理和应用范围,完成实验操作,并分析处理实验获得的数据。基于云班课平台的翻转课堂教学模式在x射线衍射教学中得到了广泛的应用,进一步实现了课程改革。文章系统地介绍了云班课和翻转课堂的技术支持,分析基于云班课翻转课堂深度学习教学新设计流程,更好地开展课程设计,促进学生深度学习。

摘要：目前x射线衍射仪(xRD)的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶x射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《x射线衍射仪技术条件》等技术文件,具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试,该测量方法实际应用中存在一定难度,其次测量间隔较大,不能很好反映真实的角度误差规律.为此,提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点,组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器,设计了一种新的xRD的角度校准方法,它能够自动快速地连续测量角度,取k=2时,扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够精确得到θ和2θ轴的误差数据,可用于修正xRD测角误差,提高xRD测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.

摘要：介绍了装备在合肥扭摆磁铁光源上一条Ｘ射线光束线的设计，包括光学系统，设计参数，光束线上的两台主要设备前置环面聚焦镜和双晶单色仪．该光束线建成后将用于生物大分子晶体结构分析、高分辨Ｘ射线粉末和单晶衍射。

摘要：用基体x射线衍射法测量了化学镀Ni-P合金的镀层厚度,并进行了误差分析。结果表明,基体x射线衍射法是一种精确度较高的镀层厚度无损测量法,在其适用的范围之内,能客观准确地测量出镀层厚度,误差小于金相法测量误差;基体x射线衍射法的测量结果,几乎不受基体表面镀层结晶状态的影响,可以用来测量晶态或非晶态镀层厚度。

摘要：为实现材料在冲击加载下微观动力学响应测量,基于小型闪光x射线源开展衍射成像系统设计.利用直流x光机及高纯锗探测器实现系统衍射光路的精确调节,克服了闪光x射线瞬时强度高及连续辐射本底强导致的衍射角度确定困难,并采用Scandiflash AB公司TD-450S和成像板建立了衍射成像系统.应用该系统在冲击加载实验中获得了LiF单晶单脉冲的Mo-Kα线静态及动态衍射图像.该闪光x射线衍射系统时间分辨率可达25ns,为冲击压缩实验中材料瞬时结构变化测量提供了新的实验方法.

摘要：介绍利用ＰＣ系列微机对一台引进的精密贵重仪器进行改造和二次开发的全过程．着重介绍ＩＥＥＥ－４８８标准接口总线在智能仪器设备控制中的作用、常用的编程方法、控制软件包的设计技巧．最后说明这种改造方案所获得的效益及其对于整个专业实验技术改造工作的实用意义．

摘要：当多晶材料中存在应力时,其内部晶面间距就会发生变化,导致x射线衍射谱线产生位移。通过分析衍射峰位的变化,就可以测量材料中内应力大小及方向。以辽宁某体育馆弦支穹顶结构为背景,引入x射线衍射法测试了12根径向杆的应力,并与设计结果进行比较,检测结果表明,结构张拉施工满足设计要求,构件实际应力与设计应力较为接近,结构处于安全状态。本方法对既有钢结构建筑的维护和安全性能评估提供了量化依据。

摘要：目的建立朱砂水飞炮制工艺质量控制的新方法。方法对正交试验得到的样品,采用酸式滴定法测定朱砂HgS的含量,并对各组样品进行x射线衍射分析。结果滴定法HgS的含量测定结果为:9#>7#>5#>3#>4#>1#>8#>6#>2#。x射线衍射结果均检索出硫化汞,部分检索出氧化汞,硫化汞综合衍射强度顺序为:9#>7#>5#>3#>4#>1#>8#>6#>2#,结果与滴定法结果一致。结论 x射线衍射Fourier图谱的几何图形拓朴规律及特征标记峰值,以及其检索的物相组成与综合衍射强度,可作为优选最佳水飞炮制工艺的指标。

摘要：将思政元素融入专业课程是丰富专业教学价值内涵、实现综合型素质人才培养的重要途径。论文结合“材料表征与测试”课程特色,坚持以“学生为主体、教师为引导”的教学模式,以x射线衍射教学内容为例,采用“知识传授-能力培养-价值塑造”三位一体式的教学方法,深入挖掘该部分教学内容蕴含的思政元素,以专业知识为载体,能力培养为导向,价值塑造为目标,对课程的教学设计、实施方法、评价机制等方面进行“思政”的探索与改革,以形成全方位协同育人的教学模式。

摘要：基于K值拟合或里特沃尔德(Rietveld)精修,通过x射线衍射(xRD)对已知组成的样品进行了快速定量分析,探讨了非晶相或结晶度不高的物质对衍射图谱的影响,对比了K值拟合和Rietveld精修定量分析的优劣,阐明常见Rietveld精修软件(TOPAS,JADE,GSAS)定量分析的特点.结果表明:结晶度较低的物质能否被xRD检出,不仅取决于其含量,也和共存晶相的衍射能力有关;当样品中非晶相含量较高,且内标物掺量合适,则可通过xRD快速定量分析出非晶相含量;3种Rietveld精修软件均可对物相组成复杂的样品进行较好的快速定量分析,而K值拟合定量误差较大;TOPAS,JADE界面友好,容易熟练掌握,GSAS操作相对复杂,需要较强的理论基础.