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微控制器下的光耦参数特性测试仪的设计: 收藏
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引用; 《电子制作》2014年第24期22卷 30-30页; 作者：邓晓千蒋力立刘彦鹏周永健广东工业大学; 基于图形化编程语言Lab view,配合计算机和单片机通讯电路所组成的一个微控制器测试仪,用于测量和采集光耦特性数据,传输到计算机中利用Lab view显示该光耦器件参数特性,并保存到PC机上。; 基于图形化编程语言Lab view,配合计算机和单片机通讯电路所组成的一个微控制器测试仪,用于测量和采集光耦特性数据,传输到计算机中利用Lab view显示该光耦器件参数特性,并保存到PC机上。; 来源：详细信息评论

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