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探针台“四芯”测试算法应用研究
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《电子工业专用设备》2022年 第6期51卷 49-52,66页
作者：胡晓霞 李猛 方敏晰 温建军中国电子科技集团公司第四十五研究所北京100176 三河建华高科有限责任公司河北燕郊065201 
介绍了探针测试的现状,基于探针设备的硬件结构,探索设计一种“四芯”测试算法,达到提高测试效率的目标。实验结果表明了“四芯”测试算法的可行性及有效性。
来源：详细信息评论
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