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检索条件"机构=上海仪器仪表自控检验测试所功能安全中心2，上海 200233"
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“功能安全产品实现技术”系列讲座第10讲实用功能安全设计技术解析
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《自动化仪表》2014年 第3期35卷 92-94页
作者：谢亚莲 廖丽华上海工业自动化仪表研究院1，上海 200233 上海仪器仪表自控检验测试所功能安全中心2，上海 200233 
针对在设计和开发功能安全相关产品中控制失效的要求及标准中推荐的控制失效的技术和措施的建议，详述了控制随机硬件失效中对可变内存RAM进行诊断测试的Galpat测试法和March 测试法，并分析了这两种测试方法可测试的RAM故障类型，以及...
来源：详细信息评论
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