• 全部搜索
  • 期刊论文
  • 图书
  • 学位论文
  • 学位论文
  • 标准
  • 纸本馆藏
  • 外文资源发现
  • 产品样本
  • 电子图书
  • 原文传递

限定检索结果

检索条件"机构=中国电子技术标准化研究所DPA中心"
共 1 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
视图：
排序：
微分析方法在dpa中的应用
收藏
分享
引用
《电子标准化与质量》1999年 第4期 35-36页
作者：廖友贵中国电子技术标准化研究所DPA中心 
破坏性物理分析（ＤｅｓｔｒｕｃｔｉｖｅＰｈｙｓｉｃａｌＡｎａｌｙｓｉｓ）主要是通过对电子元器件进行解剖，并进行各种物理分析，从而获得电子元器件的设计结构、材料和工艺等方面的批质量信息。在ＭＬＬ－ＳＴＤ－１５８０Ａ《电...
来源：详细信息评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页<< <1> >>
聚类工具 回到顶部