文献检索-宁波市创意产业特色资源库

限定检索结果

基于HALT和HASS试验的可靠性技术发展概述: 收藏
分享
引用; 《电子产品可靠性与环境试验》2022年第1期40卷 87-91页; 作者：张玲罗雨薇邱忠文中国电子科技集团公司第二十四研究所检测中心重庆400060 中电科技集团重庆声光电有限公司重庆400060 中国电子科技集团公司第二十四研究所重庆400060; 元器件的质量与可靠性是电路质量与可靠性的关键和核心,可靠性的核心是预防故障,通过在设计阶段实施HALT,研制阶段实施HASS试验,能有效地提高产品的可靠性。简单地介绍了HALT和HASS试验,并对其应力确定、设计过程作逐一介绍。最后,对HAS...; 元器件的质量与可靠性是电路质量与可靠性的关键和核心,可靠性的核心是预防故障,通过在设计阶段实施HALT,研制阶段实施HASS试验,能有效地提高产品的可靠性。简单地介绍了HALT和HASS试验,并对其应力确定、设计过程作逐一介绍。最后,对HASS和HALT试验技术的应用做了简要概述。; 来源：详细信息评论

限定检索结果