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检索条件"机构=中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035"
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基于CPLD的ARINC429总线接口系统设计
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电子与封装》2010年 第9期10卷 24-27,48页
作者:屈凌翔 单悦尔 杨兵中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
文章首先简单介绍了ARINC429航空总线的应用背景和总线传输协议的基本内容。然后根据ARINC429航空总线标准的要求,提出一种基于ACTEL公司CPLD的透明数据传输系统方案。在QUARTUSⅡ和MODELSIM的设计平台上,该系统成功实现12路ARINC429信...
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基于JTAG的SoC芯片调试系统设计
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电子与封装》2007年 第7期7卷 24-27,48页
作者:虞致国 魏敬和中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
文章提出了一种基于IEEE 1149.1 JTAG协议的SoC调试接口,该设计支持寄存器查看和设置、CPU调试、IP核调试、边界扫描测试等功能。对该接口的整体结构框图到设计都进行了详细的阐述。该接口成功地应用于测控SoC中,具有很好的参考价值。
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一种基于总线复用的SoC功能测试结构设计
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中国电子科学研究院学报》2008年 第5期3卷 520-523,528页
作者:虞致国 魏敬和 罗静中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
由于SoC结构的复杂性,必须考虑采用多种可测性设计策略。从功能测试的角度出发,提出了一种基于复用片内系统总线的可测性设计策略,使得片内的各块电路都可被并行测试。阐述了其硬件实现及应用测试函数编写功能测试矢量的具体流程。该结...
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一种纠错编解码电路的设计与实现
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电子与封装》2012年 第7期12卷 21-22,26页
作者:顾展弘 罗晟 徐睿中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
空间应用计算机硬件系统的电子器件容易受到电磁场的辐射和重粒子的冲击,导致星载计算机中的数据特别是存储器中的数据出现小概率的错误。这种错误若不及时进行纠正,将会影响计算机系统的运行和关键数据的正确性。文中设计的纠错编码电...
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基于AMBA总线的3DES算法IP核的设计与实现
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电子与封装》2015年 第1期15卷 19-23页
作者:王澧 张玲 屈凌翔中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
基于AMBA2.0总线,设计并实现了一种使用3DES加密算法的IP核。该设计通过了行为级功能仿真和综合后的时序仿真,成功运用于一款32位浮点DSP芯片中,并且用TSMC 65 nm CMOS工艺实现。目前该IP核已经投入使用,在500 MHz的工作频率下,3DES加/...
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抗辐照标准单元库验证方法研究
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电子与封装》2015年 第3期15卷 14-17页
作者:徐大为 姚进 胡永强 刘永灿 周晓彬 陈菊中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
对抗辐照单元库的验证方法进行研究。以0.5μm抗辐照单元库为例,研究抗辐射单元库的验证方法。设计了一款验证电路,对单元库进行验证,单元库功能和性能满足设计要求,抗辐射能力达到500 krad(Si)。
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ADC中高精度转换序列发生器的设计
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电子与封装》2013年 第5期13卷 12-16页
作者:万清 徐新宇 薛海卫 王澧中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
在信号处理过程中,自然界的模拟信号首先要经过A/D转换器(ADC)变换成数字信号,送到DSP中。文章设计了一种高精度的转换序列发生器,能分别单独处理8位数据,并行后能处理16位数据。这意味着ADC每收到一个启动转换请求,模块可以自动执行多...
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一种用于电源芯片的双极型LDO电路设计
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电子与封装》2013年 第10期13卷 19-22,26页
作者:何颖 屠莉敏中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
论文主要介绍一种用于DC/DC电源芯片内部LDO电路,电路采用双极工艺设计,主要为芯片内部提供稳定电压,同时也可以向外部输出。首先论述了线性稳压电源的基本原理,以此为基础对系统设计进行整体考虑,构建了系统整体架构,并制定了电路的设...
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数字集成电路设计成本模型初探
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电子与封装》2004年 第2期4卷 41-44页
作者:高红梅 于宗光中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
本文首先阐述了集成电路成本核算的必要性,接着分析了数字集成电路成本的构成,着重论述了影响数字集成电路成本的各种因素,进行了量化建模,最后给出了系数的选取原则。
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基于测试系统的FPGA测试方法研究
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电子与封装》2013年 第5期13卷 6-8页
作者:解维坤 万清 章慧彬中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
FPGA已经成为当今数字化系统硬件设计的核心,全球90%以上的嵌入式系统设计工程师正在使用FPGA进行着各种各样的设计。FPGA的快速发展,为测试厂商带来了新的机遇和挑战,针对FPGA的各种创新测试技术和解决方案不断问世。文章介绍FPGA配置...
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