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基于CLP模型的HDL设计可观测性分析
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计算机辅助设计与图形学学报》2009年 第5期21卷 688-693,699页
作者:赵阳 吕涛 李华伟 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
为了提高模拟验证中的可观测性覆盖率,建立了一个逻辑约束编程(CLP)模型,定义了变量之间单步传播的条件.在此基础上,借助通用CLP系统自动地完成路径搜索、冲突发现、回溯和约束求解.实验结果表明,基于CLP的可观测性分析技术一方面可以...
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SoC总线串扰的精简MT测试集
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计算机辅助设计与图形学学报》2009年 第4期21卷 474-480页
作者:张颖 李华伟 李晓维 胡瑜中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
多跳变(MT)故障模型是一种有效的总线串扰故障模型,可以测试由电容和电感导致的串扰故障,但是MT的原始测试集存在严重的向量冗余.通过分析MT原始测试集向量冗余的3类情况,利用欧拉回路对测试向量进行组合优化,得到MT精简测试集,同时不损...
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利用内容可寻址技术的存储器BISR方法
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计算机辅助设计与图形学学报》2009年 第4期21卷 467-473页
作者:谢远江 王达 胡瑜 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
随着缺陷密度的增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元已成为提高存储器成品率的常用方法.然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低、冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资...
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扫描链故障确定性诊断向量生成算法
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计算机辅助设计与图形学学报》2009年 第1期21卷 6-12页
作者:王飞 胡瑜 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50%.提出一种扫描链故障确定性诊断向量生成算法:首...
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面向高可靠片上网络通信的可重构路由算法
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计算机辅助设计与图形学学报》2011年 第3期23卷 448-455页
作者:付斌章 韩银和 李华伟 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
为了满足系统芯片对通信带宽的要求,片上网络正逐渐取代总线成为当前多核及众核系统的主流互连方案,然而由于芯片特征尺寸的不断减小,芯片内发生故障的概率显著增加.为了提供可靠的片上通信,提出一种低成本的可重构路由算法.该算法基于...
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高性能互联网络交换机研究与设计
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计算研究与发展》2008年 第12期45卷 2069-2078页
作者:王达伟 曹政 刘新春 游定山 孙凝晖中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
高性能互联网络交换机是高性能计算系统的核心部件.科学计算作为高性能计算机的上层应用,不仅要求交换机具有低延迟、高带宽的特性,还要求其在集合通信如广播、多播和同步操作等进行硬件级支持.HyperLink交换机,作为曙光5000计算机系...
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基于SAT的快速电路时延计算
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计算机辅助设计与图形学学报》2011年 第3期23卷 480-487页
作者:何子键 吕涛 李华伟 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
针对现有的基于时间展开电路求解时延算法在电路规模较大或者时延模型精度较高时效率较低的问题,提出一种基于子电路抽取的电路时延计算方法.基于展开电路,通过分析输出端约束找到相关的输出端,利用回溯抽取与这些输出端相关的逻辑锥子...
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无界模型检验中融合电路信息的SAT算法研究
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计算机学报》2009年 第6期32卷 1110-1118页
作者:赵阳 吕涛 李华伟 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100039 
针对从电路转化而来的SAT问题,通用SAT求解器存在一个缺陷——电路互连信息的缺失,这是造成很多无关推导的根源.文中提出了一个统一的基于CNF数据结构的电路SAT无界模型检验框架.首先作者提出了定值子句的概念,利用这一概念可以在CNF结...
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考虑工作负载影响的电路老化预测方法
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计算机辅助设计与图形学学报》2010年 第12期22卷 2242-2249页
作者:靳松 韩银和 李华伟 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素.文中基于晶体管老化效应的物理模型,提出一种电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化.首先计算出在最坏操作情况下电路老化的上限值;随后通过考虑工作负载和电路...
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面向最大串扰噪声的测试生成方法
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计算机辅助设计与图形学学报》2009年 第4期21卷 448-453页
作者:张旻晋 李华伟 李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了...
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