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检索条件"机构=中国科院半导体研究所"
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多元素测试仪测定二氯硅烷中的痕量磷
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《Journal of Semiconductors》1997年 第2期18卷 156-160页
作者:闻瑞梅 周淑君 袁越 赵振环中国科院学半导体研究所北京100083 洛阳硅单晶厂洛阳471009 北京北华电子有限公司北京102200 
二氯硅烷的沸点只有8.3℃,常温下呈气体状态,用常规的方法取样和检测难度很大.我们用高温富氢还原的方法,使二氯硅烷中的磷还原为PH3,用气相色谱法测定.并在炉口设计了锥形惰性气氛保护炉口装置,有效的防止了氢爆.保证测试安...
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基于正弦数据压缩算法的DDS研究及FPGA实现
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《计算机测量与控制》2023年 第2期31卷 269-276,283页
作者:闵令辉 曹晓东 程凯 王哲聊城大学山东省光通信科学与技术重点实验室山东聊城252000 中国科学院大学高速电路与神经网络实验室北京100049 中国科院半导体研究所北京100083 
针对直接数字频率合成器(DDS)芯片因存储空间开销大导致功耗增加,可靠性降低的问题,设计了一种将改进sunderland算法与QE-ROM技术相结合的一种用于直接数字频率合成器(DDS)的紧凑型16位精度正弦查找表(ROM);对设计的正弦查表算法进行...
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