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检索条件"机构=中国航天工业总公司七七一所"
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附加静态功耗电流测试与系统设计者的关系
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《微电子测试》1996年 第1期10卷 17-21页
作者：邵金仙中国航天工业总公司七七一所 
本文论述了温度对器件可靠性的影响、附加静态功耗电流I_(CC△)的概念、I_(CC△)的产生机理以及影响I_(CC△)的内外部因素。提醒电子系统设计者必须对HCT系列电路的I_(CC△)引起重视,确保系统的可靠性。
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