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检索条件"机构=中国航天工业总公司测控公司"
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VXI总线模块设计的基本原则
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《测控技术》1997年 第3期16卷 41-44页
作者：徐忠东中国航天工业总公司测控公司100830 
VXI总线技术的出现是测试领域的一场革命,国内在消化吸收的基础上也正在自主开发,本文从电磁兼容性设计、可靠性设升和可测性设计三个方面对VXI总线模块的设计原则进行了讨论。
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IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展
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《测控技术》1999年 第1期18卷 28-30页
作者：邱峰 梁松海中国航天工业总公司测控公司测控系统部100830 清华大学微电子所100084 
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上，讨论了研究与发展IEEE1149．1可测试性设计技术的重要意义，以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
来源：详细信息评论
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