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用光学信息理论分析微弯光纤传感器的性能
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《光学技术》2006年 第Z1期32卷 283-285页
作者：何珺 赵桂燕 徐宏杰北京师范大学信息科学与技术学院电子系北京100875 中国铁通集团有限公司网络运行部数据网管维护中心北京100038 北京航空航天大学光电技术研究所北京100083 
通过把光学信息理论应用于微弯光纤传感器,用信息量评估测量性能,提出了一种优化系统性能和参数设计的光学信息理论。通过理论推导、直观评价和实验设计,证明了这一思想的正确性和可行性。
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