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多层次测试包:一种用于统层设计的C/C++门组件层故障模拟的测试包(英文)
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《上海师范大学学报(自然科学版)》2010年 第5期39卷 472-477页
作者:所美也萨迪格可汗 法特穆加瓦河瑞 斯纳默哈莫蒂 在那拉贝定纳瓦比德黑兰大学ECE系CAD研究小组 伊朗科学技术大学CE系 
提出了一种多层次测试包(MLT)用来测试统层的设计.该包可以被用来测试由门组件层C++代码和C++复杂函数构成的混合设计.电路部件在高功能层上被描述,而C++函数被用来描述门组件层的部件.测试工具可用高层C++函数的模拟来用于门组件层部...
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