文献检索-宁波市创意产业特色资源库

限定检索结果

检索条件"机构=北京中庆微数字设备有限公司"

共 4 条记录，以下是1-10 订阅

全选清除本页清除全部题录导出标记到"检索档案"

视图：

排序：

FLEX解码器结构、设计与实现: 收藏
分享
引用; 《通信学报》2001年第6期22卷 81-87页; 作者：李辉倪光南梁文萍邵寅亮中国科学院计算技术研究所北京100080 北京中庆微数字设备有限公司北京100086; 本文从ASIC设计角度介绍了支持漫游的新一代FLEX解码器的组成、原理及其ASIC实现 ,并在FPGA上成功得到验证。; 本文从ASIC设计角度介绍了支持漫游的新一代FLEX解码器的组成、原理及其ASIC实现 ,并在FPGA上成功得到验证。; 来源：详细信息评论

扫描设计中测试逻辑的研究: 收藏
分享
引用; 《电子测量技术》1998年第3期21卷 1-4页; 作者：肖忠辉邵寅亮王磊商松北京科技大学北京中庆微数字设备有限公司; 文中首先分析了时序元件的不可测因素,提出了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明,该方法简便易行,故障覆盖率高达99％。; 文中首先分析了时序元件的不可测因素,提出了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明,该方法简便易行,故障覆盖率高达99％。; 来源：详细信息评论

扫描设计中测试逻辑的研究: 收藏
分享
引用; 《微电子技术》1998年第3期26卷 1-5页; 作者：肖忠辉邵寅亮王磊商松北京科技大学计算机系北京100083 北京中庆微数字设备有限公司; 本文首先分析了时序元件的不可测因素，介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明，该方法简便易行，故障覆盖率高达99％。; 本文首先分析了时序元件的不可测因素，介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明，该方法简便易行，故障覆盖率高达99％。; 来源：详细信息评论

扫描测试和扫描链的构造: 收藏
分享
引用; 《微电子技术》1998年第Z1期26卷 23-27页; 作者：肖忠辉商松北京科技大学计算机系北京100083 北京中庆微数字设备有限公司北京100086; 本文首先论述了扫描设计与测试向量自动生成（ATPG）这种测试方法的关键技术，并由此为依据，提出部分扫描设计中，扫描链构造的分层次的三个选取原则。; 本文首先论述了扫描设计与测试向量自动生成（ATPG）这种测试方法的关键技术，并由此为依据，提出部分扫描设计中，扫描链构造的分层次的三个选取原则。; 来源：详细信息评论

全选清除本页清除全部题录导出标记到“检索档案”

共1页<< <1> >>

聚类工具回到顶部