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MOSFET亚阈特性分析与低温按比例缩小理论的研究
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《电子学报》1995年 第11期23卷 26-30页
作者：吴金 魏同立 于宗光南京东南大学微电子中心 
器件尺寸按比例缩小是实现超大规模集成电路的有效途径，但寄生和二级效应却将器件尺寸限在一定的水平。本文在对比分析常温与低温下小尺寸器件效应的基础上，重点研究了ＭＯＳ器件亚阈特性对器件性能及按比例缩小的影响，并根据低温工...
来源：详细信息评论
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