摘要：目的针对Q235钢材的表面裂纹,在电位法检测原理的基础上,进行有限元仿真模拟。方法首先,设计不同宽度、不同深度及不同的裂纹与激励夹角等多组方案仿真计算。其次,基于直流电位法原理的解析解与有限元模拟对比验证,证明其有限元模拟的准确性。结果不同宽度的表面裂纹,两侧的电位值不同,有明显的极值拐点,且随着裂纹宽度的增加,两侧的电压降趋势逐渐平缓。不同深度的表面裂纹,两侧的电位幅值随着裂纹深度增加而增大,最小可检测0.02 mm的裂纹深度。不同方向的裂纹,其周围的电场线疏密程度及走向趋势不一样,当夹角30o≤α≤90o时,直流电位法可以较好地检测表面裂纹。通过解析解验证有限元仿真结果,在裂纹处的电位信号趋势一致,幅值略有不同,表明结果可靠。结论直流电位法对Q235钢材表面不同宽度、不同深度及不同夹角的裂纹检测分辨率较好。该研究为电位法检测Q235钢材表面裂纹提供了一定的可行性依据,证明此检测方法具有重要的工程实用价值。

摘要：针对304奥氏体不锈钢顺磁性材料,提出了将多类分类支持向量机Libsvm算法用于弱磁信号磁异常反演的研究。采用正交试验设计,制作4块304奥氏体不锈钢试块,共16组人工槽缺陷并使用弱磁检测对试块进行检测。对采集到的缺陷信号磁异常提取占宽、幅值、面积等特征值,使用Libsvm算法建立缺陷信号磁异常与缺陷之间的联系,并测试每组缺陷的反演结果。结果表明:16组缺陷中有10组长度和宽度反演正确,有8组深度反演正确。缺陷长度、宽度、深度的反演精度较高,为弱磁信号磁异常反演研究、相关实验方法和设备开发等提供了参考依据。

摘要：针对304奥氏体不锈钢顺磁性材料的裂纹检测,提出一种基于盲源分离的弱磁信号处理方法。根据正交试验,设计制作4个304奥氏体不锈钢试件,利用弱磁检测仪器采集试件磁感应强度;针对预置人工凹槽裂纹磁异常彼此独立的特点,建立弱磁信号的混叠模型,开展基于主成分分析和盲源分离的数据处理,并与磁梯度法作对比;结合独立向量和峰度系数,对缺陷信号进行智能识别。结果表明:相比磁梯度法,采用主成分分析和盲源分离方法能有效提升弱磁技术检测效果,依据独立向量和峰度系数,可实现弱磁仪器对缺陷信号的智能识别,为具有类似磁学特征的材料检测和仪器开发提供了新的思路和方法。

摘要：扰动磁场检测信号是微弱信号且总是不可避免地含有噪声和干扰信号。利用锁定放大技术设计一扰动磁场检测电路,包括去2.5 V直流电路、放大滤波电路、移相电路、电压型开关式乘法器。该设计电路实现了对扰动磁场微弱信号的测量与消噪处理。试验表明,利用锁定放大技术设计优化ACFM检测电路是一种有效的方法。

摘要：脉冲涡流检测技术在带包覆层管道腐蚀缺陷检测中展现出优势而引起广泛关注。本研究设计了一种脉冲涡流聚焦探头,通过有限元仿真与试验,研究其在复杂结构部位中的检测能力。仿真结果显示,设计的脉冲涡流聚焦探头能有效聚集磁场与涡流场能量,有利于对局部缺陷与复杂结构中的缺陷进行检测。通过探究聚焦探头在提离10~50 mm下对管道焊缝及各种尺寸局部缺陷的检测灵敏度,分析其检测能力与提离检测极限,以及在检测过程中的信号特征。结果表明,聚焦探头在提离50 mm下仍能检出尺寸为40 mm×40 mm×1 mm(长×宽×深)的方形局部腐蚀缺陷,焊缝信号的凸起特征、缺陷信号的下凹特征与仿真结果相印证。

摘要：随着隐身技术的发展,导弹和各类作战飞机平台的雷达反射探测能力被逐渐弱化,无论在战术还是战略层次,红外探测技术将在今后相当长的时间内继续成为发展的重点和热点.通过论述红外探测技术发展研究的现状,分析了红外探测技术目前研究发展的趋势和红外系统无热化设计的进展状况,提出了新的无热化设计发展理念和研究思路.

摘要：蒸压釜具有容积大且能量强等特点,广泛用于化工、医药和军工行业中,一旦发生事故造成危害较大,因此需要定期对蒸压釜进行无损检测。设计了ACFM传感器及检测系统,开展了检测蒸压釜人工缺陷的系统试验,研究检测参数对ACFM检测信号的影响。结果表明:传感器灵敏度随激励电压的增大单调递增;当匝数大于180匝时,灵敏度随匝数的增加而单调递减;检测灵敏度随频率增大单调递增,当频率大于5 kHz时灵敏度有所下降。在最佳检测参数下,ACFM传感器可检测尺寸为(长×宽×深)2 mm×0.13 mm×0.3 mm的釜齿缺陷。随缺陷尺寸的增加,检测信号幅值也会随之增大,但检测信号对缺陷深度的变化更加敏感,该方法与系统为蒸压釜釜齿裂纹检测提供了技术支撑。

摘要：单晶材料声速各向异性的特点使传统超声测量在对其厚度测量时存在一定误差。从理论上推导立方晶系单晶材料{100}晶面内的声速模型,设计加工立方晶系单晶材料的声速测量试块,测量超声入射角与晶体不同取向下纵波声速大小,求得该材料的实际声速模型。从模型中发现该材料不同晶体取向下纵波声速在5300～6130m/s内变化,变化幅度约15.6%。该模型为立方晶系单晶叶片的壁厚误差修正提供了可靠的数据支持。