摘要：本文采用杨－顾相位恢复算法数值模拟设计了用于氦氖激光基模光束转化成厚环形输出的二元光学元件，计算了衍射效率，并进行了刻蚀深度误差模拟。结果表明二元光学元件在１６阶量化后仍能基本达到设计要求。

摘要：提出了一种卫星光通信终端中反常声光偏转器(反常AOD)的工作方式。基于反常布拉格衍射几何关系,获得了非宽带匹配模式下的Dixon方程,设计了收发光路可逆性实验验证系统。实验结果表明,反常AOD收发光路可逆。

摘要：从求解描述反常声光相互作用几何关系的Dixon方程出发,得到了具体参数下的一组较优的入射角和衍射角。根据实际应用系统的需求,分析了包括TeO2晶体在PAT系统光路中的放置方向及其端面切割角度等在内的参数,设计了一种收发光波长均为800 nm的反常AOD模型结构。基于此结构,分析了发射光波长取800~830 nm时,由收发光波长差异所产生的指向偏差。结果表明：830 nm的发射光在超声波中心频率f0=101 MHz处的指向偏差可达-4.981 7 mrad。因此,提出采用收发分离式PAT系统来避免此种指向偏差。

摘要：激光技术的发展对减反膜提出了超高透过率的要求,基板的表面特征在高精度减反膜的设计与制造中不可忽略。选择熔融石英为基板,Ta2O5和SiO2为高低折射率膜层材料,针对在0°入射角下工作的532 nm激光减反膜进行设计与分析,得到膜层内的电场分布。在模拟计算中将基板的表面粗糙度等效为等比例混合膜,计算分析了理想设计条件下不同厚度界面层的V型减反膜,得到透过率与界面粗糙度的数值函数关系,最后利用数值优化的方法对理想设计进行修正,得到了存在界面层的减反膜修正结果,研究结果有助于实现超高透过率短波长激光减反膜的设计与制备。

摘要：SiO_2薄膜是光学薄膜领域内常用的重要低折射率材料之一。在文中研究中,通过测量薄膜的椭偏参数,使用非线性最小二乘法反演计算获得薄膜的光学常数。采用离子束溅射和电子束蒸发两种方法制备了SiO_2薄膜,在拟合过程中,基于L_8(2~2)正交表设计了8组反演计算实验,以评价函数MSE为考核指标。实验结果表明:对IBS SiO_2薄膜拟合MSE函数影响最大的为界面层模型,对EB SiO_2薄膜拟合MSE函数影响最大的为Pore模型。同时确定了不同物理模型对拟合MSE函数的影响大小和反演计算过程模型选择的次序,按照确定的模型选择次序拟合,两种薄膜反演计算的MSE函数相对初始MSE可下降35%和38%,表明拟合过程模型选择合理物理意义明确。文中提供了一种判断薄膜物理模型中各因素对于薄膜光学常数分析作用大小的途径,对于薄膜光学常数分析具有指导意义。

摘要：简要介绍了光纤阵列成像激光雷达的研究背景、系统优势和发展现状。然后提出了本文设计的雷达系统,并介绍了该系统的工作原理,系统采用光纤阵列前端窗口扫描的方法,避免了光电探测器阵列的制作,同时减少了光电探测器的数量。之后文章对光纤阵列成像激光雷达系统的各部分器件进行分析,包括光纤的选择、光纤阵列的设计和聚焦透镜的分析,并重点讨论了聚焦透镜F值对光纤阵列接收系统的影响,最终得到本系统聚焦透镜F最优值5.47。最后推导了本文光纤阵列成像激光雷达系统的传输效率,给出了传输效率公式。

摘要：利用杨 -顾相位恢复算法设计了 1 6阶光束整形器 ,用以将 He- Ne激光基模光束整形为环形光强分布 ,并进行了实验分析 ,在实验中 ,改变输出面距输入面 (光束整形器 )的距离 L,测得输出面的衍射光强分布 ,并与理论模拟相比对。

摘要：针对超声速燃烧室火焰驻留时间短和高湍流度的特点,利用500 Hz高频OH-PLIF(planar laser induced fluorescence)技术,研究了氢燃料超声速燃烧室火焰结构,结合壁面压力,获得了点火、稳焰以及熄火过程的规律。结果表明:隔离段入口来流马赫数为2的情况下,氢气当量比0.1和0.3,在火花塞点火下,2 ms均能点燃并获得PLIF火焰图像,其中当量比为0.1凹槽内存在爆燃现象,火焰达到稳定燃烧状态较慢(约65 ms)。稳焰过程中,当量比为0.3燃烧相对不充分,燃烧区域更靠近下壁面,燃烧位置和火核位置变化较大。当量比为0.1和0.3,熄火时间均在6 ms内,其中当量比为0.1熄火时火焰是从凹腔中部传播到凹腔前缘位置熄灭并伴随有一个短暂火焰增强的过程,并且在传播至凹腔前缘时已接近熄灭,当量比为0.3在熄灭前则是慢慢变弱,最终在凹腔前缘至喷氢位置间熄灭。

摘要：在已设计并实验实现了氦氖 6 32 8nm高斯光束输入环输出的 16阶衍射相位元件 (DPE)基础上 ,模拟了与设计不同的输入光的波长对DPE整形效果的影响 ;利用与设计DPE波长不同的半导体激光器 (波长为 6 6 0nm)进行了实验研究。结果表明 :在DPE与输出平面的间隔 (L 值 )始终为设计值时 ,当输入光波长处于 6 30～ 6 37nm范围内 ,环上均匀性的均方误差SE不大于 1% ;当输入波长与L值满足L =L0 ×λ0 /λ′时 ,波长在 6 32 8± 37(nm)的范围内 ,环上均匀性的均方误差SE不大于 1% ,实验结果与理论模拟基本相吻合。