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检索条件"机构=国外电子测量技术"
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NIDays 2012全球图形化设计盛会中国站在北京召开
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国外电子测量技术2012年 第11期31卷 1-1,4页
作者:刘璇国外电子测量技术 
美国国家仪器公司(以下简称为"NI公司")一年一度的NIDays全球图形化设计盛会中国站于2012年11月16日在北京召开。此次NIDays时隔四年后重返北京举办,吸引了近千名工程师参加。NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生作了题为"面向二十...
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第七届NI高校教师交流会在京成功举办
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国外电子测量技术2011年 第8期30卷 1-1,3页
由美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)主办的第七届NI高校教师交流会(Professor Day2011)活动于2011年7月19日在京隆重举行。本届高校教师交流会以“从创新教学到高校科研,统一的图形化系统设计平台”为主题,共...
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泛华恒兴发布测控平台化软件解决方案X-Designer
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国外电子测量技术2012年 第11期31卷 3-4页
作者:刘璇国外电子测量技术 
2012年10月30日,北京泛华恒兴科技有限公司(简称:泛华恒兴)发布了其新版测控平台化软件解决方案X-Designer3.0。泛华高级系统工程师、软件组产品负责人宫晨、高级产品工程师李巍发布并演示了这款软件。X-Designer是一个面向测试测量...
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NIDays 07,一场工程师的Party,一场技术的饕餮盛宴
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国外电子测量技术2007年 第11期26卷 81-82页
作者:江道平《国外电子测量技术》记者 
11月1日,北京长城饭店宴会厅座无虚席,NIDays 07中国站在这里隆重举行。有人说NIDays是一场秀。会场内的舞台上:有温文尔雅的NI工程师以宏观的测量、控制和设计领域趋势为背景,讲解多核处理器、FPGA技术、PXIExpress总线等并行时代中的...
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