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系统级BIT设计中的测试选择方法
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《计算机工程与应用》2001年 第19期37卷 127-129,153页
作者:黎琼炜 胡政 易晓山 张春华国防科学技术大学机电工程与自动化学院可靠性研究室长沙410073 
根据系统级BIT设计的要求,明确了系统级BIT设计中测试选择所需解决的问题,提出了测试选择的基本思想;在此基础上,利用系统级故障隔离的间接熵法实现了系统级BIT设计中的测试选择,并引入测试时间和故障发生频率参数对间接熵法进行了修正...
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