摘要：一、引言低能电子衍射(LEED)和俄歇电子能谱(AES)是研究表面晶格结构的最基本的方法。由低能电子衍射,可以得到固体表面的二维周期性和对称性等长程有序的信息[1]。而俄歇电子能谱则常被用于检测表面成分及其变化,控制吸附和反应程度,探测表面原子的电子态等。利用AES 装置,还可测量表面电子能量损失谱[2]及其精细结构[3],它们可提供许多有关表面局域结构的信息。LEED 和AES 装置的联合使用已成为现代表面研究用电子能谱仪的最基本的组合形式。本文报道的LEED-AES 谱仪是参照国外装置,自行设计,由沈阳科学仪器厂加工制造,主要部件分别采用沈阳科学仪器厂、沈阳教学仪器厂。

摘要：本文报道了一台用于物理研究的分子束外延模拟实验装置的设计和调试。这一模拟实验装置和商业化的大型测试仪器相连接,允许在不破坏超高真空状态时测试用分子束外延方法制备的样品,提供了开展应用研究和在线检测的手段。