摘要：某光电平台设备因对力学环境和减重等方面有一定要求,采用碳纤维复合材料。基于材料性能理论计算与有限元分析两种方法,对比碳纤维复合材料薄壁壳体试验件结构性能,验证了上述两种方法的正确性,为此种碳纤维复合材料薄壁壳体的结构设计提供了理论支撑。利用这两种方法进行了碳纤维复合材料薄壁壳体产品的正向设计,通过测试产品的结构性能,证实了理论计算与有限元仿真分析的可靠性,在碳纤维复合材料薄壁壳体的结构设计中具有较高的应用价值。

摘要：为了研究不同粒度高氯酸铵(AP)对RDX热稳定性的影响,以及AP对RDX基混合炸药能量释放的影响规律,设计了不同AP含量和粒度的AP/RDX混合炸药,并测试了其爆热和爆速。结果表明,100~150μm、10~13μm和2μm3种粒径的AP对RDX的热分解都起到了促进作用,使RDX的分解峰温降低,分别由433℃降至368℃、417℃降至365℃、375℃降至321℃;随着AP的加入及其粒度的减小,混合物中RDX的表观活化能也越小,由纯RDX的206kJ/mol分别减至188、170和157kJ/mol;随着AP质量分数由0提高到60%,爆速和爆热均呈增大趋势,爆速由5390m/s增至8315m/s,爆热由1610kJ/kg增至5396kJ/kg;随着AP粒度的减小,爆速有所增大,分别增至5863、5902和5931m/s,粒度对爆热没有明显影响。

摘要：对于探测光谱特征,需要设计多光谱波段的光学镜头。根据设计需求,设计了一个基于声光可调滤波器选通晶体的多光谱镜头,该镜头采用变焦设计,以适应不同场景分辨率的使用要求,同时在设计的过程中,采用分段设计,对系统的出瞳和入瞳进行了优化匹配,并校正了色差,以及绘制出变焦曲线,为后期系统变焦制动方案提供了依据。

摘要：从结构设计角度出发,阐述了电子设备机箱电磁屏蔽的设计要点,同时给出了解决结构设计中电磁屏蔽问题的设计方法。应用Ansoft HFSS软件对某电子设备机箱进行了仿真,计算出了机箱的屏蔽效能和箱体内场的分布,通过器件的优化布局和箱体板的合理设计达到提高电磁屏蔽效能的目的。

摘要：讨论了长波无热化镜头设计方法,采用新的玻璃材料硫系玻璃进行了光学系统的设计,介绍了硫系玻璃的特性和应用方向,分析了光学镜头无热化的设计方法,并根据技术要求设计了基于硫系玻璃的长波红外无热化镜头,通过合理的将硫系玻璃和其他红外材料进行匹配,通过优化设计,在宽温度范围内得到了较好的成像效果。

摘要：以某型转台线束布设为研究对象,提出了基于UGNX11/Routing Electrical模块的转台三维布线工艺设计技术。通过分析转台布线特点,设计三维布线流程,分解设计输入数据,制定三维布线设计原则,规划布线路径,调用接线关系表和设备关系表,最终实现转台的三维布线。解决了目前布线设计滞后、布线精准度差等问题,从而提高布线的效率和质量。

摘要：在设备开关机的过程中可能会由于负载跃迁而出现电压浪涌的现象,针对这一问题提出了一种用于DC-DC变换器的带过流保护功能的浪涌控制开关电路。通过研究实践该电路在一定程度上可以抑制上电时出现的浪涌电压,而且还具有对输入过欠电压和过流的保护作用。为了更加灵活地选择开关,本文设计了两种通过控制主回路的通断实现导通以及关闭电路的方案。本文先是阐述了浪涌抑制电路的原理,分析开关选择电路设计,为相关开关输入浪涌抑制以及优化设计提供借鉴和参考。

摘要：针对目前扫描成像中的振镜控制系统功耗高、体积大、控制精度低和控制复杂等缺点,设计出一种高速、高精度振镜控制系统。分析了系统的工作原理,叙述了系统的硬件设计和软件算法设计,详细介绍了振镜控制系统的数字控制电路设计和驱动电路设计,并研制出了振镜控制系统。实验结果验证了振镜控制系统的可行性,系统运行稳定可靠,成功应用于动态稳像系统,有较大的应用前景。

摘要：论述了基于MPC8377+JEM971A以太网接口部分电路设计,对该设计在应用中出现的信号传输速度慢的问题进行了测试和分析,逐步查找分析故障原因,对使用中的元器件进行应用测试分析;对硬件电路输出输入可能引起的故障进行测试;利用编写软件进行试验分析;通过对比的手段分析测试印制板走线,逐步排除故障,找出了问题的原因和解决方法,得出正确的设计结论,为设计人员提供了有应用价值的设计建议。

摘要：论述了扫描电子显微镜(SEM)应用的广泛性以及光栅样片用于校准扫描电子显微镜的重要性,从选材、图形设计及加工制作等几个方面设计并研制了微米级光栅样片。为方便校准扫描电子显微镜的不同放大倍率,采用分区域图形设计方法将7个不同尺寸的样片结构分布在同一模板上。设计了对样片的关键质量参数(如栅条的直线度及均匀性)的评价方法,并对已试制的光栅样片的栅条宽度、直线度以及均匀性进行了测量。以周期尺寸为2和10μm的样片为例,分析了样片关键质量参数的测量数据。分析结果表明,研制的样片符合作为校准扫描电子显微镜的标准样片的基本条件。