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检索条件"机构=天津南大强芯半导体芯片设计有限公司"
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SOC设计和制造工艺的技术现状和发展趋势
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《中国集成电路》2004年 第10期13卷 31-35页
作者:戴宇杰天津南大强芯半导体芯片设计有限公司 
SOC芯片的技术特点及其高附加值性,使之成为一种具有国家战略意义的实用技术和代表该国家的高技术发展水平。近几年,美国、日本、欧州各国以及韩国和我国的台湾地区均投入了量的物力和人力,把SOC芯片设计和制造技术作为一种能提高国...
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集成电路中的ESD保护
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《电子工艺技术》2005年 第2期26卷 95-97页
作者:王猛天津南大强芯半导体芯片设计有限公司天津300457 
随着科学技术的飞速发展、微电子技术的广泛应用及电磁环境越来越复杂,对静电的电磁场效应,如电磁干扰(EMI)及电磁兼容性(EMC)问题越来越重视。简要介绍静电放电(ESD)的产生及在集成电路工艺、器件中的防护措施,并提供了现今流行的保护...
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衬底温度对In_xGa_(1-x)N薄膜结构特性的影响
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天津理工学学报》2012年 第1期28卷 79-82页
作者:王金飞 薛玉明 祝俊刚 周凯 谭炳尧 张衷维 李石亮 裴涛 汪子涵 王一 牛伟凯 姜舒博 杨醒 蓝英杰天津理工大学天津市薄膜电子与通信器件重点实验室天津300384 天津南大强芯半导体芯片设计有限公司天津300457 
本文采用MOCVD工艺,通过调整衬底温度(固定其它工艺参数)来沉积用于太阳电池的InxGa1-xN薄膜,并利用X射线衍射仪(XRD)、X射线荧光光谱仪(XRF)、扫描电子显微镜(SEM)和台阶仪来分析研究其结构特性.衬底温度较低时有利于薄膜的In注入,衬...
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