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检索条件"机构=安捷伦科技半导体测试事业部"
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市场发展的趋势:高整合度SOC的测试
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半导体技术》2004年 第4期29卷 J002-J004页
作者:安捷伦科技有限公司半导体测试事业部 
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SOC测试领域的挑战和变革
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《通讯世界》2003年 第8期9卷 42-44页
作者:安捷伦科技半导体测试事业部 
微电子技术从IC向SOC转变不仅是一种概念上的突破,同时也是信息技术发展的必然结果,通过软、硬件的协同设计技术、IP模块库技术和模块界面间的综合分析技术三大支持技术的创新,必将导致又一次以系统芯片为特色的信息技术上的革命。目前,...
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市场发展的趋势:高整合度SOC的测试
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《集成电路应用》2003年 第10期20卷 11-13页
作者:安捷伦科技半导体测试事业部 
1 SOC的发展趋势在这个世纪的产品替换速率加快,与科技不断进步之际,半导体厂商皆朝更佳的'成本优势'与'上市时程'发展,以抢得市场先机,来满足更高的处理速率与轻薄短小的市场需求,也孕育多种功能整合至少数硅芯片的技...
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SOC测试之趋势及未来挑战
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《中国集成电路》2002年 第3期11卷 106-110,116页
作者:林品旭 江衍绪安捷伦科技有限公司半导体测试事业部 
随着半导体科技的进步,我们已经可以把越来越多的线路同时设计在一个芯片中,这里面可能包含有中央处理器(CPU)、嵌入式内存(Embedded mem-ory)、数字处理器(DSP)、数字功能(Digital function)、模拟功能(Analog function)、模拟数字转换...
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