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基于侦测技术的新型瓦楞纸箱戳穿试验仪研发
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《包装学报》2015年 第1期7卷 45-48页
作者:万旺军 白广宇 徐福伟 王广宇 徐慧浙江出入境检验检疫局包装检测实验室浙江杭州310016 杭州唐研科技有限公司浙江杭州310018 
为解决传统瓦楞纸箱戳穿试验仪所存在的检测精度低、可靠性差、自动化程度低和安全防护不足等弊端,利用现代控制与侦测技术,研制了一种精度高、易操作、使用安全的新型瓦楞纸箱戳穿试验仪。该设备由能量迸发与传递、戳穿能量侦测、导向...
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