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检索条件"机构=杭州长川科技股份有限公司"
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SoC数字测试机高精度脉冲边沿设计技术研究
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《中国集成电路》2025年 第1期34卷 70-74页
作者:钟锋浩杭州长川科技股份有限公司 
集成电路数字测试机最关键的核心技术是数字测试模块技术,其技术性能直接决定了数字测试机的技术能力。数字测试模块的关键技术指标是测试速度和向量深度,其中测试速度的提升和稳定性直接决定了整个数字测试机的能力。本文从数字模块的...
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高精度电压电流源设计研究
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《中国集成电路》2024年 第10期33卷 56-59,72页
作者:钟锋浩杭州长川科技股份有限公司 
电压电流源在集成电路自动测试设备是必配的资源,最大电压和电流的规格会有不同的要求,但都会对电压和电流的精度提出很高的要求。本文通过对电源线路原理的优化设计,解决了电源输出通过连接器和导线等不同路径对输出精度的影响,通过算...
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基于压力自适应控制的IC分选设备的设计与实现
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《微纳电子与智能制造》2022年 第1期4卷 101-104页
作者:赵轶 韩笑 刘震治 陈正大 周卫华杭州长川科技股份有限公司杭州310051 台州职业技术学院台州318000 
本文提出了一种压力自适应控制的集成电路分选设备的设计与实现。首先,针对分选设备机械运动过程中复杂情况和压力实时监测需求,完成了分选设备测压机构的结构设计,下压的末端增加压力传感器,可实现压力的在线实时监测。其次,优化膜片...
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晶圆探针台结构振动模态分析研究
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《微纳电子与智能制造》2022年 第1期4卷 88-93页
作者:韩笑 鲍军其 张新 刘治震 周传平杭州长川科技股份有限公司杭州310062 电子科技大学机械与电气工程学院成都611731 
晶圆测试是芯片制造产业中十分重要的环节,是芯片良品率最主要的测试方法,探针台作为晶圆测试的主要设备,用来检测晶圆质量的好坏,在芯片制造过程中有着重要的作用。晶圆片尺寸的增大和晶圆密度的提高会导致探针台晶圆测试时间的增加,...
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