摘要：1介绍多工位测试是大多数模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.随着并行测试工位数的提高,模拟和混合信号器件测试系统的设计人员需要不断的努力克服以前的架构的不足，架构的缺点会导致并行测试效率（PTE：Parallel Test Efficiency）的降低。

摘要：1介绍多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来，模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足，使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展，寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进，以实现更高的并行测试效率。

摘要：多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE:ParallelTestEfficiency)降低。测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,产生更高的并行测试效率。