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检索条件"机构=电子封装技术与可靠性研究所"
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随机振动载荷下塑封球栅阵列含铅焊点疲劳寿命模型
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《振动与冲击》2021年 第2期40卷 164-170页
作者:秦飞 别晓锐 陈思 安彤北京工业大学机械工程与应用电子技术学院电子封装技术与可靠性研究所北京100124 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家重点实验室广州510610 
对塑封球栅阵列(PBGA)封装器件Sn37Pb焊点进行了正弦振动、随机振动实验,得到各个载荷下焊点的疲劳寿命结果。建立了三维有限元模型,进行与实验条件一致的有限元分析,计算焊点的应力;将实验结果与有限元计算相结合,并基于Steinberg寿命...
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用于分析电子封装结构的有限元-边界元耦合方法研究
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《强度与环境》2022年 第5期49卷 101-106页
作者:马冲 公颜鹏 侯传涛 秦飞电子封装技术与可靠性研究所北京工业大学北京100124 可靠性与环境工程技术重点实验室北京强度环境研究所北京100076 
随着封装密度增加和功能的多样化,封装结构呈现出明显的跨尺度特征,这给封装结构的数值分析和设计带来了巨大的挑战。针对具有跨尺度特征的电子封装结构,本文提出了一种基于ABAQUS的有限元法(FEM)和边界元法(BEM)的耦合方法。在耦合方...
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