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基于扫描链测试的HDL编码规范分析与研究
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《福建电脑》2013年 第10期29卷 58-61,158页
作者：罗闳訚福建建新大陆电脑股份有限公司福建福州350015 
集成电路制造过程的缺陷会使部分芯片失效,因此需要通过高效的自动测试方法来对芯片的正确性进行检测。该文针对集成电路自动测试方法中的扫描链测试,提出了六条HDL编码规范,用于提高测试覆盖率从而提高测试效率。把这些编码规范应用到...
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