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开发全面的设计-测试解决方案
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《中国集成电路》2003年 第48期12卷 72-77页
作者:许伟达科利登系统公司上海办事处 
对于集成电路(IC)生产商而言,如今先进的设计和制作工艺为开发前所未有的芯片功能提供了无限潜能。然而,长期以来一直存在于设计和测试之间的鸿沟依旧阻碍生产商进行大规模生产、扩大润。
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